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[发明专利]分光测定装置、图像形成装置及分光测定方法-CN201610416964.3有效
发明人：西村晃幸 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2016-06-14 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G01J3/26 文献下载
摘要：本发明提供能够快速进行测定的分光测定装置、图像形成装置及分光测定方法。打印机(10)包括：分光器(17)，包括让来自测定对象的光射入的波长可变干涉滤波器；以及滑架移动单元(14)，使分光器(17)相对于测定对象沿X方向移动，波长可变干涉滤波器具有一对反射膜和改变一对反射膜之间的间隙尺寸的静电致动器，在分光器(17)通过滑架移动单元(14)在X方向上移动的期间，交替实施边减小反射膜之间的间隙尺寸边进行分光测定的第一分光测定处理与边增加间隙尺寸边进行分光测定的第二分光测定处理。
分光测定装置图像形成方法

[发明专利]分光测定装置、图像形成装置以及分光测定方法-CN201610118561.0有效
发明人：久利龙平 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2016-03-02 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01J3/46 文献下载
摘要：本发明提供了能够实施高精度的测色处理的分光测定装置、图像形成装置以及分光测定方法。打印机(10)包括：包括来自测定对象的光入射的波长可变干涉滤波器的分光仪(17)；以及使分光仪(17)相对于测定对象沿着X方向移动的滑架移动单元(14)。并且，打印机(10)在测定对象为色块的情况下，在使分光仪(17)在X方向上移动期间的第一期间，改变通过波长可变干涉滤波器的光的波长并进行分光测定，并在第一期间中的测定开始时以及测定结束时，使初始波长的光从波长可变干涉滤波器通过，把测定开始时的分光测定的测定值即第一输出值与测定结束时的分光测定的测定值即第二输出值进行比较。
分光测定装置图像形成以及方法

[发明专利]分光测定装置、图像形成装置以及分光测定方法-CN201610429356.6有效
发明人：野泽武史 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2016-06-16 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： G01J3/26 文献下载
摘要：本发明提供了能够在适当的位置进行分光测定的分光测定装置、图像形成装置、以及分光测定方法。打印机(10)包括：分光器(17)，具有来自测定区域的光入射的波长可变干涉滤波器、以及接收来自波长可变干涉滤波器的光并输出与受光量对应的检测信号的受光部；滑架移动单元(14)，使分光器(17)相对于分光测定的测定对象沿一个方向相对移动，使测定区域相对于测定对象移动；以及定时检测电路(21)，具有微分检测信号并输出微分信号的微分电路，在测定对象是色标的情况下，根据微分信号开始检测受光量的分光测定。
分光测定装置图像形成以及方法

[发明专利]分光测定方法-CN200980140897.5有效
发明人：渡边元之;井口和也;铃木健吾 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2009-09-08 - 公布日： 2011-09-14 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部，根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0，并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ，并由φ＝βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此，实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。
分光测定方法

[发明专利]分光测定装置-CN201710640422.9有效
发明人：白岩久志 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2017-07-31 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G01J3/04 文献下载
摘要：本发明提供一种能减少由光纤的弯曲所产生的测定误差并且提高供给至分光测定部的光的光量的分光测定装置。分光测定装置具备：分光测定部，对通过狭缝射入的光进行分光测定；以及光漫射单元，使从多个光纤供给的光漫射，以漫射后的光直接或者经由透镜或反射镜射入所述狭缝的方式相对于所述狭缝进行物理固定。
分光测定装置

[发明专利]分光特性测定装置及方法-CN200410103653.9无效
发明人：柳英一 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2004-12-23 - 公布日： 2005-07-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明是关于一种分光特性测定装置及方法，该装置是一种能够防止因温度变化所造成的测定精确度的下降的分光特性测定装置。该装置为一种具有向被检测透镜照射测定光的光源、用于将被检测透镜保持在测定位置的透镜配置部、将透过了测定位置所保持的被检测透镜的测定光进行分光的分光元件、接受被分光的测定光并检测每一波长成分的光量值的受光元件，且根据由所检测的光量值得到的光谱而求被检测透镜的分光特性的分光特性测定装置；具备将测定光的发光光谱预先进行存储的存储部、使被检测透镜从测定位置转移，并检测所测定的测定光的发光光谱对前述所存储的发光光谱的位移量，且根据所检测的位移量对被检测透镜的分光特性进行修正的控制部。
分光特性测定装置方法

[发明专利]膜厚测定装置及方法-CN200910006484.X有效
发明人：西田和史 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2009-02-18 - 公布日： 2009-08-26 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明提供一种膜厚测定装置及方法，能安定而连续地测定具复折射性的待测定对象的膜厚。膜厚测定装置(1)，包含：光谱测定部(10)，将对于待测定膜F照射白色光而得到的反射光予以分光，并测定反射分光光谱；运算部(20)，对于经测定的反射分光光谱施加既定运算，而测定待测定膜F膜厚。运算部(20)，包含：波数转换部(23)，将反射分光光谱之中，预先设定的波长区域的反射分光光谱转换为重排为既定波数间隔的波数域反射分光光谱；傅利叶转换部(24)，将波数域反射分光光谱转换为功率谱；计算部(峰部检测部(25)、加权平均部(26)，及膜厚计算部(27))，求出在功率谱中出现的峰部的重心位置，依据此重心位置求出待测定膜F厚度。
测定装置方法

[发明专利]测定装置及测定方法-CN202110133455.0在审
发明人：松仪泰明;五所尾康博;高桥秀和;立石幸一 -专利权人：阿自倍尔株式会社
申请日： 2021-02-01 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明提供一种测定装置及测定方法，用简易的构成高精度地测定溶解于水溶液等各种溶液中的溶质或混合气体中的各气体等测定对象的浓度。本申请的测定系统(1)具有：光源装置(2)，其通过使发光元件断续地点亮，射出包含与浓度的测定对象对应的特定波长的光；法布里‑珀罗分光用可调滤光器(4)，其从经由测定对象接收到的光中，至少对与已分光的波长不同的波长的光进行分光；受光元件(5)，其分别测定由法布里‑珀罗分光用可调滤光器(4)分光后的光的强度；以及测定装置(6)，其生成表示由法布里‑珀罗分光用可调滤光器(4)分光后的光的波长与由受光元件(5)测定的各波长的光的强度的关系性的光谱
测定装置方法

[发明专利]分光分析装置、以及分光分析装置的校正方法-CN201510624957.8有效
发明人：樱井和徳;笠原広和 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2015-09-25 - 公布日： 2019-09-03 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本发明涉及分光分析装置以及分光分析装置的校正方法。分光分析装置(1)具备：测定测定对象的分光光谱的分光测定部；存储记录有与已知成分对应的固有波长的参照数据的存储部(21)；利用参照数据指定与测定到的分光光谱中的固有波长对应的特征点的特征指定部(224)；以及将分光光谱中的特征点的波长作为固有波长进行校正的波长校正部(226)。
分光分析装置以及校正方法

[发明专利]光谱测定装置-CN200980159509.8有效
发明人：船山龙士;川真田进也;横地泰容;远藤雅人;吉田康浩;北浜谦一 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2009-05-29 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明提供一种针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象，能够缩短测定来自各测定部分的光的光谱测定所需的测定时间的光谱测定装置。光谱测定装置具备：具有两条以上的狭缝(12b)的狭缝组(12G)；分光器(14)，该分光器按照各条狭缝(12b)对由狭缝组(12G)提取出的光进行分光；以及测定器(15)，该测定器测定由分光器(14)分光后的各条狭缝针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象(20)，各狭缝(12b)从来自该测定对象(20)的光中提取来自各测定部分的光。
光谱测定装置

[发明专利]分光测定装置及分光测定方法-CN201811207370.7在审
发明人：铃木健吾;井口和也 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2015-11-19 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：分光测定装置(1)具备光源(10)、积分器(20)、第1分光检测器(41)、第2分光检测器(42)及解析部(50)。积分器(20)包含：内部空间(21)，其配置有测定对象物；光输入部(22)，其将光输入到内部空间(21)；光输出部(23)，其将光自内部空间(21)输出；及试样安装部(24)，其安装测定对象物。第1分光检测器(41)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第1波段的光进行分光而取得第1光谱数据。第2分光检测器(42)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第2波段的光进行分光而取得第2光谱数据。第1波段与第2波段包含一部分重叠的波段。由此，实现了可分光测定更宽的波段的被测定光的分光测定装置及分光测定方法。
波段分光检测器积分器分光测定装置分光测定测定对象物光谱数据分光输出试样安装部光输出部光输入部测定光光输入光源解析配置

[发明专利]分光测定装置及分光测定方法-CN201580065427.2有效
发明人：铃木健吾;井口和也 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2015-11-19 - 公布日： 2018-11-16 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：分光测定装置(1)具备光源(10)、积分器(20)、第1分光检测器(41)、第2分光检测器(42)及解析部(50)。积分器(20)包含：内部空间(21)，其配置有测定对象物；光输入部(22)，其将光输入到内部空间(21)；光输出部(23)，其将光自内部空间(21)输出；及试样安装部(24)，其安装测定对象物。第1分光检测器(41)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第1波段的光进行分光而取得第1光谱数据。第2分光检测器(42)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第2波段的光进行分光而取得第2光谱数据。第1波段与第2波段包含一部分重叠的波段。由此，实现了可分光测定更宽的波段的被测定光的分光测定装置及分光测定方法。
波段分光检测器积分器分光测定装置分光测定测定对象物光谱数据分光输出试样安装部光输出部光输入部测定光光输入光源解析配置

[发明专利]分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序-CN200980123020.5有效
发明人：井口和也;铃木健吾 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2009-06-10 - 公布日： 2011-05-18 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、通过入射开口部(21)将激励光供给到积分球(20)的内部的照射光供给部(10)、在积分球(20)的内部保持试料(S)的试料容器(400)、对来自出射开口部(22)的被测定光进行分光并取得波长光谱的分光分析装置(30)、对波长光谱进行数据解析的数据解析装置(50)，从而构成分光测定装置(1A)。由此，实现了可以适宜地进行在积分球内被保持于试料容器的试料的分光测定的分光测定装置、测定方法以及测定程序。
分光测定装置方法以及程序

[发明专利]分光测定装置、分光测定用具及分光测定方法-CN201210236292.X有效
发明人：大久保章男;中村勤 -专利权人：爱科来株式会社
申请日： 2012-07-06 - 公布日： 2013-01-09 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：按照分光测定用具进行计测时，以光通过被检查物质的光路长度来校正吸光度。发光部（11）将多个波长的光向由分光测定用具（2）保持的被检查物质（3）照射。
分光测定装置用具方法

[发明专利]分光测定装置以及图像形成装置-CN201610173910.9在审
发明人：金井政史 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2016-03-24 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01J3/00 文献下载
摘要：本发明提供可实施高精度的分光测定处理的分光测定装置以及图像形成装置。打印机具备分光器，所述分光器包括光源、向介质(A)的规定的照射范围照射来自光源的照明光的积分器光学系统、设置有让来自测定对象的光射入的波长可变干涉滤波器的分光器件、以及接收从分光器件射出的光的受光部，积分器光学系统向照射范围照射照明光，所述照射范围包含介质(A)和分光器之间的距离为基准距离时的基准测定范围(R₀)，并且比基准测定范围(R₀)至少增大介质(A)和分光器之间的距离的允许变动量(
分光测定装置以及图像形成

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